Dėl kiekvieno matavimo veiksnio atsiranda elementarių matavimo paklaidų

Matavimo paklaidų klasifikacija

Dėl kiekvieno matavimo veiksnio atsiranda elementarių matavimo paklaidų. Visų veiksnių elementarių paklaidų suma sudaro bendrą, arba sudėtinę, matavimo rezultato paklaidą.

Yra tokių matavimo paklaidų: objekto, asmeninės, instrumentinės, matavimo metodo ir priklausančios nuo išorinių sąlygų.

Objekto paklaidos atsiranda kintant matuojamam objektui. Kai aukščių skirtumas tarp taškų nustatomas barometriniu niveliavimu, tuose taškuose matuojamas atmosferos slėgis, oro ir aneroido temperatūra. Šie parametrai nepastovūs. Jie yra laiko funkcija. Vienu momentu negalima išmatuoti jų abiejuose taškuose. Todėl atsiranda niveliavimo paklaidų.

Asmeninės paklaidos atsiranda dėl riboto žmogaus jutimo organų jautrumo. Pavyzdžiui, vizavimo tikslumą riboja akies skiriamoji geba. Todėl atsiranda matuoklės atskaitos paklaida, gulsčiuko burbulėlio nustatymo nuliniame taške paklaida ir kt.

Instrumentinės paklaidos atsiranda tada, kai netobulas matavimo prietaisas arba kai jis netiksliai sureguliuotas.

Matavimo metodo paklaidos daromos dėl netinkamo matavimo metodo. Pavyzdžiui, matuojant horizontalius kampus, esant vienai vertikaliojo skritulio padėčiai, nepašalinama paklaida, priklausanti nuo vizavimo ašies nestatmenumo žiūrono sukimosi ašiai (kolimacinė paklaida).

Paklaidos, priklausančios nuo išorinių sąlygų, atsiranda dėl aplinkos poveikio. Pavyzdžiui, pučiant vėjui dėl nivelyro ir matuoklės nestabilumo.

Pagal prigimti ir savybes matavimo paklaidų yra trys grupės: stambios, sisteminės ir atsitiktinės.

Stambios klaidos — tai klaidos, padaromos dėl nepakankamo matuotojo atidumo, dėl nepatikrinto instrumento, blogo darbo organizavimo, labai pasikeitusių išorinių sąlygų (oro temperatūros, vėjo, matomumo ir kt.). Stambi klaida yra apsirikimas atskaičiuojant limbą vieno arba dešimties laipsnių tikslumu, kai reikia atskaičiuoti, pavyzdžiui, 0,51 tikslumu.

Matavimų kontrolę reikia organizuoti taip, kad stambios klaidos butų aptiktos ir pašalintos iš matavimo rezultatų. Norint jų išvengti, naudojamasi stebimųjų objektų geometrinėmis savybėmis (pvz., daugiakampio kampų suma), matuojama pakartotinai ir kt.

Stambios klaidos gali būti laikomos ir asmeninėmis, nes matuotojas turi matuoti taip, kad tokių klaidų nebūtų.

Sisteminės paklaidos tokios, dėl kurių atsiradimo priežasties pasikeičia matavimo rezultatas pagal tą patį dėsnį. Sisteminės paklaidos yra nekintamos ir kintamos.

Nekintamos — tai tokios, kurių dydis ir ženklas nesikeičia. Pavyzdžiui, matuojant horizontalųjį kampą ruožtų būdu dėl instrumento centravimo paklaidos kampų reikšmės gaunamos su pastovia sistemine paklaida arba tarkime, kad tikras (esant tam tikrai jo temperatūrai) ir nominalusis matavimo įrankio ilgiai skiriasi. Sis skirtumas tokioje pat temperatūroje yra pastovus. Išmatuoto linijos ilgio paklaida bus tiesiog proporcinga įrankio atidėjimų skaičiui. Matavimo rezultatą galima pataisyti komparavus matavimo įrankį ir suradus pataisą. Tačiau liks nepašalinta sisteminė paklaida dėl pačios pataisos radimo paklaidos (komparavimo paklaidos), bet jos absoliutinė reikšmė bus gerokai mažesnė.

Sekite Mus